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学术讲座

复合外延薄膜中负压力与磁电性质之间的耦合机理

时间:2020-12-01 09:50:15  作者:  点击:

一、讲座: 复合外延薄膜中负压力与磁电性质之间的耦合机理

二、主讲人:赵润

三、管理助教:温芳琴

四、时间:2020年12月2日(第13周,周三)下午13:30

五、地点:天平校区 J13

六、内容简介:

压力作为钙钛矿薄膜晶格畸变和能带重构的有效方式,已在多铁性研究和光电子器件中被广泛应用。负压力则是通过晶格三维膨胀引发材料内部离子偏移和键角改变以实现物性调控,理论上具有更宽的压力范围和更强的物性调控效果。本次讲座将系统地讲解此体系中垂直结构演化、负压力形成机理和铁磁-铁电性质调控等基本问题。在此基础上,分别从宏观和微观的角度构建负压力调控ETO相自旋-晶格耦合的物理模型。

七、主讲人简介:

赵润 副教授,2014年博士毕业于苏州大学,2018年至2019年月于英国卡迪夫大学担任访问学者。主要从事复合薄膜制备及应变调控方面的研究。主要研究方向包括:(1)多铁钙钛矿薄膜的新奇物理机理;(2)有机-无机杂化太阳能电池。主持国家自然科学基金2项。在Adv. Funct. Mater.、Appl. Phys. Lett.和Ceram. Int.等国际主流物理期刊发表SCI论文近35篇。

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版权:苏州科技大学天平学院教务处

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